供应荧光X射线镀层测量仪

CMI900／950系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了CMI900/950主机的全面自动化控制。
适用产业：用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件。 
　　 
技术参数： 
　　A：CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都良好于全世界的测厚行业 ACMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，较薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定较多5层、15种元素。 
　　B：精确度良好于世界，精确到0.025um（相对与标准片） 
　　C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 
　　D：统计功能提供数据平均值、误差分析、较大值、较小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品； 
　　E：可测量任一测量点，较小可达0.025x0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。